芯片老化測(cè)試對(duì)芯片測(cè)試非常重要，但我們應(yīng)該注意哪些要點(diǎn)？根據(jù)以往的經(jīng)驗(yàn)，我總結(jié)了九個(gè)問(wèn)題。DFT工程師可以根據(jù)這九點(diǎn)思考和豐富您的芯片老化測(cè)試方案：

芯片測(cè)試

一.我們應(yīng)該走多遠(yuǎn)才能通過(guò)老化降低早夭率？

BI(Burn-in) / ELFR(Early Life Failure Rate)：評(píng)估早夭階段的故障率或藉由BI手法降低出貨的早夭率 -DPPM(Defect Parts Per-Million)。

老化要注意的要點(diǎn)：測(cè)試環(huán)境（濕度，溫度，壓力等），測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，測(cè)試負(fù)載，動(dòng)態(tài)靜態(tài)測(cè)試，另外還包括(但不限于)：試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、樣本數(shù)量、試驗(yàn)?zāi)康?、要求的置信度、需求的精度、費(fèi)用、加速因子、外場(chǎng)環(huán)境、試驗(yàn)環(huán)境、加速因子計(jì)算、威布爾分布斜率或β參數(shù)(β < 1表示早期故障，β> 1 表示耗損故障) 。

測(cè)試檢查

a.測(cè)試環(huán)境：溫度方面，一般 室溫，70℃，125℃，155℃，175℃甚至更高，根據(jù)不同級(jí)別的測(cè)試要求來(lái)安排；濕度方面，80/85%的相對(duì)濕度，其他的濕度要求根據(jù)測(cè)試要求來(lái)定；

b.測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，一般分為24H，168H，1000H等；

老化設(shè)備

二.老化可以節(jié)省多少成本？

老化測(cè)試設(shè)備的錢(qián)花在那里？

a.測(cè)試系統(tǒng);b.老化爐/高溫箱;c.老化板；d.老化測(cè)試座;f.人工等；

老化測(cè)試

實(shí)際費(fèi)用短期看來(lái)比較最大的是測(cè)試系統(tǒng)以及老化爐和高溫箱，這幾個(gè)一般都是搭配銷(xiāo)售的，一般來(lái)說(shuō)生產(chǎn)和銷(xiāo)售高溫箱老化爐的公司都會(huì)有這方面的實(shí)力制作與設(shè)備配合的測(cè)試系統(tǒng)，輔助客戶(hù)更好的開(kāi)展老化測(cè)試工作。

長(zhǎng)期來(lái)看，老化板和IC老化測(cè)試座才是實(shí)際上的大頭。隨著芯片的I/O數(shù)越來(lái)越多以及芯片功能多樣性還有測(cè)試數(shù)量的增多，批量老化測(cè)試時(shí)，芯片的老化測(cè)試板也隨著有更多層，更多設(shè)計(jì)需求的要求，所以其老化測(cè)試的成本也會(huì)更高。這也是各個(gè)老化測(cè)試使用公司不愿更換老化板的原因，成本實(shí)在太高了；另外長(zhǎng)期大頭就是IC老化測(cè)試座了，這個(gè)產(chǎn)品是屬于消耗品的，國(guó)際上測(cè)試座先驅(qū)公司都一致將這個(gè)測(cè)試座的壽命定為10000次，所以在大批量測(cè)試的情況下，這個(gè)測(cè)試座的消耗究竟有多少，大家可以看看自家公司的情況，是不是可以用堆積如山來(lái)形容。所以尋找一家合適的老化座公司并長(zhǎng)期穩(wěn)定合作成為了測(cè)試部門(mén)的一塊心病。

人工方面，傳統(tǒng)的測(cè)試，都是采用人工擺放的方式，測(cè)試座是翻蓋IC測(cè)試座，在擺放DUT時(shí)，由于測(cè)試樣本數(shù)量的問(wèn)題，人工數(shù)會(huì)要求較多，同時(shí)測(cè)試也會(huì)有一定的誤測(cè)。不過(guò)，隨著人工成本的不斷增加，以及自動(dòng)化的測(cè)試設(shè)備的發(fā)展和市場(chǎng)需求，二三線芯片廠商也運(yùn)用起自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，人工的成本也慢慢減少。

剩下的問(wèn)題，讓小編下節(jié)為您解答，更多資訊，請(qǐng)關(guān)注我們~