今天小編帶大家了解一下測試電子LGA座特性和性能參數(shù)介紹。

LGA測試座的特點和性能參數(shù)：

包裝設(shè)計兼容，只要更換座椅，就可以兼容測試TSOP包裝和LGA包裝的FLASH測試。大小兼容設(shè)計，只要更換限位框，就可以測試不同尺寸的LGAFLASH；

主控板與設(shè)計兼容，只要更換主控板的主控IC，就可以實現(xiàn)核心狀態(tài)。采用一拖四架設(shè)計，省去了外置HUB，每臺電腦可同時量產(chǎn)16PCSFlash芯片，效率倍增；

LGA測試座的測試壽命可達20萬次以上，是同類使用壽命的10倍以上；探頭可以更換，維護方便，成本低；采用手動翻蓋結(jié)構(gòu)，操作方便；

上蓋壓板采用特殊結(jié)構(gòu)，下壓穩(wěn)定，IC壓力均勻，不移位；高精度定位槽，確保LGA定位準確，生產(chǎn)效率高；整機24小時工作性能穩(wěn)定可靠，是FLASH經(jīng)銷商和U盤廠的好幫手！

勘探材料：鈹銅(標準)；

絕緣材料：FR-4.PPS等；

最小跳遠pitch=0.4mm(引腳中心到中心的距離)；

快速交貨：一天內(nèi)最快交貨。

LGA測試座主要功能：

清空和分類Flash。

格式化NandFlash，實際測試可以使用容量。

直接量產(chǎn)Flash，提高U盤生產(chǎn)效率。