DDR4-16位內(nèi)存條測(cè)試座，導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)
DDR內(nèi)存條測(cè)試座
適用于DDR3,DDR4，DDR5,內(nèi)存條顆粒測(cè)試
用于芯片的快速篩選，驗(yàn)證，測(cè)試，
采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效.
測(cè)試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可
可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)
探針可更換，維修方便，成本低
適用于DDR3 DDR4 DDR5
用于芯片的快速驗(yàn)證，測(cè)試.
適用于手測(cè)
有探針和導(dǎo)電膠2種導(dǎo)電結(jié)構(gòu)選擇
導(dǎo)正框可更換，多種尺寸兼容
提供8位及16位的測(cè)試治具
測(cè)試座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料： AL，Cu，POM
探針類(lèi)型： 彈簧探針/導(dǎo)電膠
工作溫度： -45 ~ 125度
探針壽命： 30萬(wàn)次
彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin
電流： 1A （ 電阻： 50mΩ
頻寬： > 3.6GHZ @-1db
DDR內(nèi)存條測(cè)試座
適用于DDR3,DDR4,DDR5,內(nèi)存條顆粒測(cè)試
用于芯片的快速篩選，驗(yàn)證，測(cè)試，
采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效.
測(cè)試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可
可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)
探針可更換，維修方便，成本低
DDR內(nèi)存條測(cè)試座
適用于DDR3,DDR4，DDR5,內(nèi)存條顆粒測(cè)試
用于芯片的快速篩選，驗(yàn)證，測(cè)試，
采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效.
測(cè)試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可
可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)
探針可更換，維修方便，成本低
